2018年中国存储与数据峰会DSS江湖志人物传——吴非
数据存储豪杰录
天下风云皆出我辈，愿纵笔录尽“江湖”豪杰！中国存储与数据峰会（DSS）即日起将不间断推出DSS江湖志，记录每一位数据存储圈的“江湖人物”——即大会嘉宾强大阵容（排名不分先后）。
现在隆重介绍
存储可靠性与测试论坛出品人
——吴非女士！
吴非博士是2018年中国存储与数据峰会（DSS）邀请的唯一一位女性出品人，她主持的存储可靠性与测试技术论坛也在存储行业至关重要。下面我们先来了解一下吴博士其人，武汉市晨光人才和“3551”人才，曾在美国卡耐基梅隆大学数据存储中心做访问学者。主要研究方向为大规模数据存储、新型存储器性能和可靠性优化、纠错编码、新型存储体系结构等。
2008年，吴非博士获得了湖北省技术发明二等奖、军队科技进步二等奖、武汉市科技进步三等奖各一项，担任TOC、TOS、TCAD、IEEE access等顶级期刊的特邀评审人，以及NAS、APPT等国际会议的程序委员，在Eurosys、DAC、DATE、ICCD、MSST等高端学术会议和TOC、TOS、TCAD、TECS等期刊上发表论文60余篇，申请发明专利20余项。
现在回归正题，我们常说数据是基础，存储是基石。而从企业到个人数据存储，可靠性一直以来都是一个可吐槽同时又可炫耀的话题和标准。
现今数据正在呈爆炸式增长，同时多层级数据，存储位置不同，应用也不相同。在此期间，存储容量增加毋庸置疑，但用户要求必须伴随性能提升，导致可靠性跟不上节奏，强制“拉条”造成的恶果很多，各种内外部干扰因素已经触发各类闪存新技术的产生，因此保证存储可靠性至关重要。
作为2018中国存储与数据峰会存储可靠性与测试论坛的出品人，吴非博士不仅会为我们带来精彩的开场演讲，围绕如何高效的应用闪存，以3D CT闪存为例，从定性和定量多维度对闪存的性能和可靠性进行分析，并提出了对应的优化方法，为设计者和使用者提供解决思路。
同时还从专业角度出发邀请到众多业内知名学术专家和企业代表，其中包括广东工业大学信息工程学院教授、副院长韩国军，为你介绍影响闪存存储可靠性的干扰噪声估计和消除技术，华东师范大学教授，博士生导师石亮为你讲解如何利用压缩技术改善闪存的可靠性、性能和寿命等问题，SSDFans联合创始人阿呆为你揭秘SSD从实验室到量产会经历的各种测试技术。还有存储桥接芯片出货量全球第三的中国芯片公司华澜微电子股份有限公司带来精彩演讲，走过路过不要错过！
作者：天品正连接@装修流程,装修视频
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